xrf荧光光谱仪

xrf荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司新开发的具有超高速元素分析能力的手持式X荧光光谱仪，可满足多种金属基体材料以及土壤，塑胶，矿石等多种复杂材料的光谱化学成分分析需要。以其无与伦比的分析速度，媲美实验室级的分析精度和便于操作的特点为同类型手持式光谱分析仪设立了新的标准。

新一代SPECTRO xrf荧光光谱仪在继承既有的高性价比，零售业能优点基础上，更针对客户免费发布企业信息定位分析的需要增加了可视化CCD摄像头以满足小焦点免费发布企业信息定位分析的要求，测试点的影像可以和分析结果一起保存在系统内存中，一体化集成GPS定位可以将测试点经纬度坐标信息同测试结果一起保存，便于回溯，大的提升了工作效率。

① 可在大气中现场快速无损的（2秒显示牌号和实验室级的分析结果/额外增加10秒可分析Mg，Al，Si，P，S）分析检测并鉴别出各种不锈钢，低合金钢，有色合金，金属等材质中的常量和微量元素含量，检出限可达几个ppm，并可根据用户应用需要进行扩展，以满足粉末，矿石，土壤等不同样品更多的分析测试要求，测量元素可达47种。

② 设备体积小，重量轻，分析精度高，中英文操作系统、集一体化程度高，可靠性佳，集多种应用于一体，特别适用于高精度材料成分快速检测。

③ 配有Peltier电制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）计数器, 数据处理能力10倍于PIN二*管检测器，可有效防止计数溢出造成的漏计。SDD技术显著减少分析所占用的X射线开启时间，在同样的仪器使用条件下可以测试更多的样品，有效提升工作效率。

④ 采用复合滤光片 (多金属复合材料) 设计, 显著减少了由于更换滤波片造成的分析时间的浪费（*高缩短5倍时间），采用不同的激发条件保证对元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激发效果，减少了操作时间，大幅度降低X射线对操作人员造成伤害的可能性, 是真正意义上的企业信息的快速无损现场检测设备。

⑤ 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可对任何完全未知的样品进行‘解剖’分析。与其他同类仪器相比，FP更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数千种国际标准样品，实测结果并予以固化。

⑥ 采用人机功效学原理，一体化的工业级电脑可以完成诸如：仪器控制，测试操作，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰 / 逃逸峰校正，定量计算等操作功能。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。标准USB接口更方便数据传出。

⑦ 具备Interlock企业信息互锁和硬体快门。如未检测到测试样品，快门互锁装置会于200毫秒内自动关闭快门并同时切断X射线，连锁保护功能大程度保护操作人员的人身企业信息；快门即为目前所有品牌中内置的ICAL自校准样品，自动校准仪器，自动修正偏差，无需外置自校准标样，保证分析结果的准确性。

⑧ 仪器在Windows CE操作系统上建立斯派克的分析软件，操作方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。

⑨ 仪器具有多种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，以取得分析结果。方法包括: 基本参数法、卢卡斯经验系数法、质量吸收系数法、基体匹配校正等等。

⑩ 可视CCD摄像头定位系统，可实时记录所测样品的位置的图像并和测试数据一同保存。

xrf荧光光谱仪 

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