纳米扫描探针显微镜工作模式：
1.标准工作模式：
1.1轻敲模式(Vibrationmode)
1.2接触模式(Contactmode)
1.3相位成像模式(Phaseimaging)
1.4横向力模式(LateralforceMicroscopyLFM)
1.5力曲线测试（Forcecurve）可测杨氏模量
1.6纳米操控（Nanomanipulation）
1.7纳米刻蚀（Nanolithography）
1.8力矩阵模式（ForceMapping）
1.9摩擦力测试（FrictionMode）
2.可选工作模式：
2.1磁力显微镜模式（MFMmode）
2.2静电力显微镜模式（EFMmode）
2.3导电显微镜模式（C-AFMmode）
2.4液相模式（Liquidscanmode）
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